Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II - January 21-22, 1985, Los Angeles, California
- Författare
- (Fred H. Pollak, chairman/editor.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| SPIE | cop. 1985 | USA, Bellingham, Wash | vi, 169 sidor. diagr., ill., tab. |